2023年第一届中国航天元器件可靠性论坛

征文选题范围

1.元器件测试
核心关键元器件测试技术
MEMS测试技术
微电子器件新测试方法、理论及前沿技术
第三代半导体的检测试验技术

2.应用验证
核心关键高端器件应用验证技术
元器件应用验证综合评价方法
元器件辐照效应的评估与验证技术

3.元器件可靠性
元器件退化机理与可靠性建模

元器件加速寿命试验验证技术
超大规模集成电路缺陷定位与分析技术
新型器件的失效模型与失效机理研究

4.元器件质量数据分析与应用
可靠性数据标准研究
多专业异构数据应用与挖掘
基于数据驱动的质量与可靠性云技术

5.元器件质量管控
国产元器件质量控制关键技术
国产元器件优选分析与统型技术研究
基于物联网的供方/产品质量监控技术

6.元器件发展趋势
元器件发展趋势及应用前景元器件检测技术发展趋势及前景
各类别元器件研制应用现状及发展方向分析

撰写要求

1.论文应在 2000字以上、8000 字以内，题目不超过20字.要求主题明确、文字通顺，名词术语、公式符号统一，用 word进行排版。

2.论文内容及顺序:题目、作者姓名、所在单位、摘要、关键词、正文、参考文献、作者简介等。

3.参考文献只列出已经公开出版且在文中直接引用的主要文献。

4.论文须经非密化处理，并通过本单位保密审批。要求在提交电子文稿的同时，一并提交保密审批文件

5.论文格式要求:

(1)页面:A4，上、下页边距为 2.54cm，左、右页边距为3.17cm;
(2)文章标题:三号，黑体，加粗，居中;
(3)作者、单位:五号，黑体，居中;
(4)摘要:“摘要”字-五号，宋体，加粗;具体内容-五号，仿宋;
(5)关键词:“关键词”字- 五号，宋体，加粗;具体内容-五号，仿宋;
(6)正文:标题-四号，宋体，加粗;具体内容-小四号宋体，1.5倍行距;
(7)参考文献、作者简介:于正文之后，间隔一行;“参考文献”和“作者简介”字-五号，宋体，加粗;具体内容-五号仿宋，包括姓名、性别、专业、单位、职称、职务、联系电话内部或外部电子邮箱。
(8)论文电子文件(Word 格式)标题应按“CR-选题序号-单位-联系作者-题目-(公开)”的格式编排，“保密审查表”应扫描成电子文件 (jpg或 pdf 格式)，其标题应按“CR-选题序号-单位-联系作者-题目(保密审查表)-(公开)”格式编排
6.投稿截止日期:2023年5月30日。

论文提交

1.论文可通过外网电子邮件系统发送至:
396088064@qq.com，请注明参会论文。

2.航天科工集团内单位推荐通过内网发送至:航天三院三O三所元器件可靠性中心唐金慧，质量技术处王良、吴红霞.
航天科技集团内单位推荐通过内网发送至:chengliang@cast.casc成亮
3提交的论文将由联合主办单位组织专家审查，审查结果将于会前告知。被采纳的论文将汇编成册，会议期间发放。部分优秀论文将推荐至国内核心期刊增刊发表。